Brasil, 22/02/2020

JEOL: Lançamento de um novo microscópio eletrônico analítico de ultra-alta resolução atômica JEM-ARM300F2 (GRAND ARM (TM) 2)

TÓQUIO, 14/02/2020 –

JEOL Ltd. (TOKYO: 6951) (Presidente e Diretor de Operações Izumi Oi) anuncia o lançamento de um novo microscópio eletrônico de análise atômica de resolução atômica, JEM-ARM300F2 (GRAND ARM(TM)2), a ser lançado em fevereiro de 2020.

Este comunicado de imprensa inclui multimédia. Veja o comunicado completo aqui: https://www.businesswire.com/news/home/20200214005390/pt/

JEM-ARM300F2 (Photo: Business Wire)

JEM-ARM300F2 (Photo: Business Wire)

Histórico do desenvolvimento do produto

Na microscopia eletrônica, um grande número de microscopistas e engenheiros continuaram buscando a melhoria da resolução. Enquanto isso, a JEOL tem feito esforços para melhorar a estabilidade do microscópio eletrônico de transmissão (MET). Combinando tecnologias de correção de aberrações com esses esforços, alcançamos com sucesso uma resolução extremamente alta.

O JEM-ARM300F (GRAND ARM(TM)) é um MET de resolução atômica focado em obter a melhor resolução da categoria. Mas as demandas pelo MET moderno incluem a caracterização não apenas de materiais duros, mas também de materiais macios. Nessas circunstâncias, os usuários de MET solicitam resolução e análise aprimoradas com maior grau de precisão.

A JEOL desenvolveu um novo MET, o JEM-ARM300F2 (GRAND ARM(TM)2), que atende a essas solicitações. Esse MET analítico de resolução atômica ultra-alta possui muitos recursos. Em particular, com uma nova peça de lente objetiva, “PCF2”, o GRAND ARM(TM)2 alcança uma combinação ideal de imagens de alta resolução atômica com alta qualidade, juntamente com a melhor análise elementar EDS de grande ângulo sólido da classe.

A configuração padrão do GRAND ARM(TM)2 inclui um gabinete que mitiga distúrbios externos, levando a uma maior estabilidade do instrumento.

Principais recursos

1. Uma combinação ideal de resolução espacial ultra-alta com análise de raios X de alta sensibilidade.

Os recursos da recém-desenvolvida objetiva de lente objetiva PCF2 são os seguintes:

1) Comparado com a PCF anterior, a PCF2 fornece maior eficiência de detecção com raio-X (1,4sr), mais do que o dobro da PCF.

2) Um baixo coeficiente óptico, baixo coeficiente de Cc e baixo coeficiente de Cs permitem que a resolução espacial ultra-alta e a análise de raios X de alta sensibilidade sejam realizadas em uma variedade de tensões de aceleração.

(Resolução STEM garantida: 53pm em 300kV, 96pm em 80kV)*

*É quando o Corretor de abertura de trajetória de expansão STEM (ATE) é configurado.

2. O pólo largo de espaço livre (Wide Gap Polepiece, WGP) da lente objetiva permite análises de raios X de sensibilidade ultra-alta.

Esta peça ocular, com um amplo espaço entre o polo superior e o polo inferior, possui as seguintes vantagens:

1) O WGP permite SDDs de área grande (detectores de desvio de silício) a serem aproximados da amostra, obtendo uma análise de raios X de sensibilidade ultra-alta (ângulo total de 2,2sr).

2) O WGP acomoda suportes de amostras mais grossos, permitindo vários tipos de experimentos in situ.

3. Os corretores de aberração esférica (Cs) desenvolvidos pela JEOL são integradosàcoluna do microscópio e fornecem resolução espacial ultra-alta.

1) Combinado com a PCF2, o GRAND ARM (TM)2 atinge uma resolução STEM de 53pm a 300kV.

2) Combinado com o WGP, o GRAND ARM (TM)2 alcança uma resolução STEM de 59pm a 300kV.

3) O JEOL COSMO(TM) (Módulo do sistema corretor) possibilita executar a correção de aberrações de maneira rápida e fácil.

4. Uma pistola de emissão de campo frio (Cold-FEG) é fornecida como padrão.

O GRAND ARM(TM)2 é equipado com um Cold-FEG que fornece uma menor propagação de energia da fonte de elétrons.

5. Um gabinete que mitiga distúrbios externos.

Este novo gabinete é padrão para reduzir distúrbios externos, como fluxo de ar, mudanças de temperatura ambiente e ruído acústico.

Especificações principais

Resolução garantida

 

Imagem HAADF-STEM: 53pm (com corretor ATE e PCF2)

Pistola eletrônica: Pistola de emissão de campo frio (Cold-FEG)

Tensão de aceleração

Padrão: 300kV e 80kV

Espectrômetro de raios-X de energia dispersiva

SDD de área ampla (158 mm2): Detectores duplos são possíveis

Ângulo sólido: 1,4sr (com PCF2)

Meta anual de vendas unitária

10 unidades/ano

JEOL Ltd.

3-1-2, Musashino, Akishima, Tóquio, 196-8558, Japão

Izumi Oi, Presidente e Diretor de Operações

(Código de ações: 6951, primeira seção da Bolsa de Valores de Tóquio)

www.jeol.com

O texto no idioma original deste anúncio é a versão oficial autorizada. As traduções são fornecidas apenas como uma facilidade e devem se referir ao texto no idioma original, que é a única versão do texto que tem efeito legal.

Contato:

JEOL Ltd.

Divisão de vendas de instrumentos de medição e ciência

Hideya Ueno

+81-3-6262-3567

https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html

Fonte: BUSINESS WIRE

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